X-ray microanalysis in the electron microscope

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Chandler, John A.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York Elsevier/North-Holland 1977
Colección:(Practical methods in electron microscopy 5 parte II)
Materias:
LEADER 00859nam a2200241 a 4500
001 000000020766
003 OSt
005 20151109142722.0
008 151109s1977 nyua|||| |||| 00| 0 eng d
040 |a Sistema de Bibliotecas UNAH 
082 0 |a 578.45-C44 
100 1 |a Chandler, John A. 
245 1 0 |a X-ray microanalysis in the electron microscope  |c John A. Chandler 
260 |c 1977  |a New York  |b Elsevier/North-Holland 
300 |a v.  |b il. 
490 0 |a (Practical methods in electron microscopy  |v 5 parte II) 
504 |a Incluye referencias bibliográficas  
650 4 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
650 4 |a RAYOS X 
942 |2 ddc  |c LB 
999 |c 20766  |d 20766 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 578_000000000000000_45C44  |7 0  |9 80327  |a CG  |b BM  |l 0  |o 578.45-C44  |p 373110  |y LB 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 578_000000000000000_45C44  |7 0  |9 80328  |a CG  |b BC  |l 0  |o 578.45-C44  |p 382946  |y LB