Evaluación de la Contaminación Superficial por método directo e indirecto, basado en la ISO 7503:2016 en el período septiembre 2019 a noviembre 2020 en el Laboratorio de Física de Radiaciones y Metrología (LAF-RAM)
La calibración de los detectores de contaminación superficial se realiza utilizando un set de fuentes planas radiactivas que emiten radiación alfa (??), beta (??) y gamma (??), un banco de calibración y la metodología establecida en la norma internacional ISO 7503-3:2016, reportándose en el certific...
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Undetermined |
| Publicado: |
Nicaragua | MANAGUA
UNAN, Managua
2020
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| Materias: |