Sensitividades de un espectrómetro de rayos X en geometría ortogonal, como método primario para el análisis químico y su aplicación para la caracterización de materias primas y producto terminado /
| Main Author: | |
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| Format: | Thesis Book |
| Published: |
Guatemala :
USAC,
2003.
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| Subjects: |
Sistema de Bibliotecas USAC
| Copy | Available |
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