Advanced Test Methods for SRAMs : effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /
Otros Autores: | , , , , |
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Formato: | eBook |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York, NY :
Springer,
2010.
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Edición: | 1 edición |
Materias: |
Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
Copia | Disponible |
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