Advanced Test Methods for SRAMs : effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bosio, Alberto (creador), Dilillo, Luigi. (creador), Girard, Patrick (creador), Pravossoudovitch, Serge (creador), Virazel, Arnaud (creador)
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: New York, NY : Springer, 2010.
Edición:1 edición
Materias:
Circuitos electrónicos
Dispositivos de memoria
Circuitos y sistemas
Conductividad eléctrica
Amplificadores
Semiconductores
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