Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis Book |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Cartago, Costa Rica :
E. Orozco S.,
2011.
|
| Subjects: |
| Physical Description: | 1 disco de computadora : ilustraciones, diagramas, fotografías. |
|---|---|
| Bibliography: | Bibliografía |