Exportación Completada — 
Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /

Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Orozco Serrano, Edwin
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Cartago, Costa Rica : E. Orozco S., 2011.
Materias:
Capas delgadas
Difacción > Rayos X
Plasma
Recubrimientos
Procesamiento de datos
Tesis

Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica

Detalle de Existencias desde Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
Copia Disponible

Ejemplares similares