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| LEADER |
01065nmm a2200301 a 4500 |
| 001 |
000189726 |
| 005 |
20121119174506.0 |
| 008 |
121113s2011 cr d spa d |
| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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| 090 |
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|a TF 6621
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| 100 |
1 |
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|a Orozco Serrano, Edwin
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| 245 |
1 |
0 |
|a Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /
|c Edwin Orozco Serrano.
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| 260 |
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|a Cartago, Costa Rica :
|b E. Orozco S.,
|c 2011.
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| 300 |
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|a 1 disco de computadora :
|b ilustraciones, diagramas, fotografías.
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| 502 |
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|a Proyecto de graduación (Licenciatura en Ingeniería en Materiales ) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales, 2011
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| 504 |
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|a Bibliografía
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| 505 |
0 |
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|a Apéndices
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| 590 |
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|a ITCR
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| 590 |
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|a COTA
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| 590 |
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|a CSUCA2
|
| 590 |
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|
|a META
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| 650 |
1 |
4 |
|a Capas delgadas
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| 650 |
1 |
4 |
|a Difacción
|x Rayos X
|
| 650 |
1 |
4 |
|a Plasma
|
| 650 |
1 |
4 |
|a Recubrimientos
|
| 650 |
1 |
4 |
|a Procesamiento de datos
|
| 655 |
|
4 |
|a Tesis
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| 902 |
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|
|a Jessi
|b 2012/11/19
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