Applied pattern recognition /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bunke, Horst (Editor ), Kandel, Abraham (Editor ), Last, Mark (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Alemania : Springer, 2008.
Edición:1 edición
Materias:

Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica

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