Applied pattern recognition /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bunke, Horst (Editor ), Kandel, Abraham (Editor ), Last, Mark (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Alemania : Springer, 2008.
Edición:1 edición
Materias:
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020 |a 9783540768319  |q (e-book) 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
245 0 0 |a Applied pattern recognition /  |c editores Horst Bunke, Abraham Kandel, Mark Last. 
250 |a 1 edición 
260 |a Berlin, Alemania :  |b Springer,  |c 2008. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, diagramas, fotografías, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos SPRINGER 
504 |a Referencias 
590 |a MATE 
590 |a COMP 
590 |a ATI 
590 |a MECA 
650 1 7 |a Matemáticas aplicadas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Inteligencia artificial  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Procesamiento de datos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Ingeniería matemática  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Aplicaciones matemáticas  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
700 1 |a Bunke, Horst,  |e editor 
700 1 |a Kandel, Abraham,  |e editor 
700 1 |a Last, Mark,  |e editor 
903 |a Lisandro  |b 2024/06/10