Applied pattern recognition /

Bibliographic Details
Other Authors: Bunke, Horst (Editor), Kandel, Abraham (Editor), Last, Mark (Editor)
Format: eBook
Language:English
Published: Berlin, Alemania : Springer, 2008.
Edition:1 edición
Subjects:
Description
Item Description:Base de Datos SPRINGER
Physical Description:1 recurso en línea : ilustraciones, diagramas, fotografías, gráficas, tablas.
Bibliography:Referencias
ISBN:9783540768319