Advanced computing in electron microscopy /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kirkland, Earl J.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, Estados Unidos : Springer, 2010.
Edición:2 edición
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Kirkland, Earl J. 
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300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, fotografías, gráficas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos SPRINGER 
504 |a Referencias 
590 |a ELEC 
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650 1 7 |a Microscopía electrónica  |x Simulación por computadoras  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Espectroscopía  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Ingeniería eléctrica  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Ciencia de los materiales  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Análisis numérico  |x Computación  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
903 |a Elieth  |b 2024/02/28