Advanced computing in electron microscopy /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kirkland, Earl J.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, Estados Unidos : Springer, 2010.
Edición:2 edición
Materias:
Microscopía electrónica > Simulación por computadoras
Espectroscopía
Ingeniería eléctrica
Ciencia de los materiales
Análisis numérico > Computación
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