Scanning probe microscopy of soft matter : fundamentals and practices /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tsukruk, Vladimir V.
Otros Autores: Singamaneni, Srikanth (creador)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Alemania : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012.
Materias:
LEADER 01205nam a2200325 u 4500
001 000298620
005 20210526141811.0
008 201104s2012 gw |s 00| 0 eng d
020 |a 9783527639953  |q (e-book) 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Tsukruk, Vladimir V. 
245 1 0 |a Scanning probe microscopy of soft matter :  |b fundamentals and practices /  |c creadores Vladimir V. Tsukruk, Srikanth Singamaneni. 
260 |a Alemania :  |b Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA,  |c 2012. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, gràficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
504 |a Referencias 
590 |a TECN 
590 |a FISI 
590 |a ELEC 
650 1 7 |a Aparatos con escáneres  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Microscopios  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Materiales blandos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Espectroscopia  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Conductividad térmica  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
700 1 |a Singamaneni, Srikanth,  |e creador 
902 |a Annette  |b 2021/05/05 
900 |a Base de Datos de Wiley