Integrated circuit test engineering : modern techniques /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Grout, Ian A.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Londres, Inglaterra : Springer-Verlag London Limited, 2006.
Materias:
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020 |a 9781846281730  |q (e-book) 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Grout, Ian A. 
245 1 0 |a Integrated circuit test engineering :  |b modern techniques /  |c creador Ian A. Grout. 
260 |a Londres, Inglaterra :  |b Springer-Verlag London Limited,  |c 2006. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Apéndices 
500 |a Incluye índice 
504 |a Referencias al final de cada capítulo. 
505 0 |a Resumen y ejercicios al final de cada capítulo. 
590 |a INGE 
590 |a TECN 
590 |a ELEC 
650 1 7 |a Electrónica  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos integrados  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Tecnología eléctrica  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Microelectrónica  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos microelectrónicos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Ingeniería de pruebas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Procesos de fabricación  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
902 |a Xiomara  |b 2021/06/17 
900 |a Base de Datos: Proquest