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Integrated circuit test engineering : modern techniques /
Detalles Bibliográficos
Autor principal:
Grout, Ian A.
Formato:
Libro
Lenguaje:
English
Publicado:
Londres, Inglaterra :
Springer-Verlag London Limited,
2006.
Materias:
Electrónica
Circuitos integrados
Tecnología eléctrica
Microelectrónica
Circuitos microelectrónicos
Ingeniería de pruebas
Procesos de fabricación
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Tabla de Contenidos:
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