Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras : dependencia espectral del índice de refracción complejo /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Amador Jara, Alvaro Antonio (Autor, Autor/a)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: [San José], C.R., 2004.
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
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245 1 0 |a Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras :  |b dependencia espectral del índice de refracción complejo /  |c Alvaro Antonio Amador Jara 
260 |a [San José], C.R.,  |c 2004. 
300 |a xiii, 100 hojas :  |b ilustraciones 
502 |a Tesis (magíster scientiae en física)-Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado. Programa de Posgrado en Física, 2004. 
650 |a SEMICONDUCTORES 
650 |a PELICULAS DELGADAS 
650 |a ANALISIS ESPECTRAL 
909 |a Magister Scientiae en Física 
900 |a 2006 
912 |a 19-JUN-2007 - CRUZ BARRANTES, MARIA AUXILIADORA 
917 |a 19-APR-2005 - CAMACHO ALFARO, ROSA ISELA 
949 |a MEC -EMB 
916 |a Centro Catalográfico 
919 |a Artes y Letras 
921 |a tesis de maestría