Solder joint reliability of BGA, CSP, flip chip, and fine pitch SMT assemblies /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lau, John H. (Autor, Autor/a), Pao, Yi-Hsin (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : McGraw-Hill, c1997.
Colección:Electronic Packaging and Interconnection Series / Charles M. Harper, series advisor
Materias:
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