Quantitative data processing in scanning probe microscopy : spm applications for nanometrology /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Klapetek, Petr
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	Estados Unidos : William Andrew Publishing, 2013.
Materias:	Nanotecnología Electrones Circuitos de retroalimentación Almacenamiento de datos Procesamiento de datos Procesamiento y evaluación de datos Libros electrónicos

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