Quantitative data processing in scanning probe microscopy : spm applications for nanometrology /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Klapetek, Petr
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Estados Unidos : William Andrew Publishing, 2013.
Materias:
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020 |a 9781455730582  |q (e-book) 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Klapetek, Petr 
245 1 0 |a Quantitative data processing in scanning probe microscopy :  |b spm applications for nanometrology /  |c creador Petr Klapetek. 
260 |a Estados Unidos :  |b William Andrew Publishing,  |c 2013. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, fotografías, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
504 |a Referencias 
590 |a ELEC 
590 |a MECA 
650 1 7 |a Nanotecnología  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Electrones  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos de retroalimentación  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Almacenamiento de datos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Procesamiento de datos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Procesamiento y evaluación de datos  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
902 |a Lisandro  |b 2020/04/21