Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
[New York] :
Springer,
c2003.
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Edición: | Third edition |
Materias: |
Descripción Física: | xix, 690 páginas : ilustraciones, algunas a color + un disco compacto |
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ISBN: | 9780306472923 |