Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Goldstein, Joseph I. (autor)
Otros Autores: Newbury, Dale E. (autor), Echlin, Patrick (autor), Joy, David C., 1943- (autor), Lyman, Charles E. (autor), Lifshin, Eric (autor), Sawyer, Linda (autor), Michael, Joseph R. (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: [New York] : Springer, c2003.
Edición:Third edition
Materias:
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020 |a 9780306472923 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad Nacional de Costa Rica 
082 0 4 |a 502.825  |b G624s  |2 21 
100 1 |a Goldstein, Joseph I.,  |e autor 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /  |c Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael. 
250 |a Third edition 
260 |a [New York] :  |b Springer,  |c c2003. 
300 |a xix, 690 páginas :  |b ilustraciones, algunas a color  |e + un disco compacto 
336 |a texto  |2 rdacontent 
337 |a sin mediación  |2 rdamedia 
338 |a volumen  |2 rdacarrier 
650 0 4 |a MICROSCOPIOS 
650 0 4 |a MICROSCOPIA ELECTRÓNICA 
650 0 4 |a RAYOS X 
700 1 |a Newbury, Dale E.,  |e autor 
700 1 |a Echlin, Patrick,  |e autor 
700 1 |a Joy, David C.,  |d 1943-,  |e autor 
700 1 |a Lyman, Charles E.,  |e autor 
700 1 |a Lifshin, Eric,  |e autor 
700 1 |a Sawyer, Linda,  |e autor 
700 1 |a Michael, Joseph R.,  |e autor