Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Bibliographic Details
Main Author: Delgado Jiménez, Lilliana (autora)
Other Authors: Chacón Vargas, Sofía (autora), Sabater Piqueres, Carlos (autor), Sáenz Arce, Giovanni (autor)
Format: Article
Language:Spanish
Subjects:
MICROSCOPIOS
CALIBRACIÓN
TOPOGRAFÍA
Online Access:https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003

Internet

https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003

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