Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , , |
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | Spanish |
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| Acceso en línea: | https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003 |
| Notas: | Contiene resumen en inglés y portugués |
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