Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Delgado Jiménez, Lilliana (autora)
Otros Autores: Chacón Vargas, Sofía (autora), Sabater Piqueres, Carlos (autor), Sáenz Arce, Giovanni (autor)
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:
Acceso en línea:https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003
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100 1 |a Delgado Jiménez, Lilliana,  |e autora 
245 1 0 |a Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico  |h artículo de revista  |c / Lilliana Delgado-Jiménez, Sofía Chacón-Vargas, Carlos Sabater-Piqueres, Giovanni Sáenz-Arce. 
246 3 1 |a Topographical measurements on atomically flat surfaces at room conditions through scanning tunneling microscope, a didactic insight 
500 |a Contiene resumen en inglés y portugués 
650 0 4 |a MICROSCOPIOS 
650 0 4 |a CALIBRACIÓN 
650 0 4 |a TOPOGRAFÍA 
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773 0 |t Uniciencia. --  |g Vol. 33, no. 1 (Enero-junio 2019), páginas 30-42 
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