Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Delgado Jiménez, Lilliana (autora)
Otros Autores: Chacón Vargas, Sofía (autora), Sabater Piqueres, Carlos (autor), Sáenz Arce, Giovanni (autor)
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:
MICROSCOPIOS
CALIBRACIÓN
TOPOGRAFÍA
Acceso en línea:https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003

Internet

https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003

Sistema de Bibliotecas de la Universidad Nacional de Costa Rica

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Número de Clasificación: H 500
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