Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /
Main Author: | |
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Other Authors: | , , , , |
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
New York :
Springer,
c2018.
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Edition: | fourth edition |
Subjects: |
Physical Description: | xxiii, 550 páginas : fotografías, diagramas, gráficos, muestras. |
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Bibliography: | Incluye apéndice página 542 e índice página 547 |
ISBN: | 9781493966745 |