Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis Libro |
| Lenguaje: | Spanish |
| Publicado: |
Cartago, Costa Rica :
E. Orozco S.,
2011.
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| Materias: |
| Descripción Física: | 1 disco de computadora : ilustraciones, diagramas, fotografías. |
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| Bibliografía: | Bibliografía |