$Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /$
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Uso de difractómetro de rayos X para medir espesor de capas delgadas. /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Orozco Serrano, Edwin
Formato:	Tesis Libro
Lenguaje:	Spanish
Publicado:	Cartago, Costa Rica : E. Orozco S., 2011.
Materias:	Capas delgadas Difacción > Rayos X Plasma Recubrimientos Procesamiento de datos Tesis

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