CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Pavlov, Andrei. (Autor), Sachdev, Manoj. (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2008.
Edición:1st ed. 2008.
Colección:Frontiers in Electronic Testing, 40
Materias:
Electronic circuits.
Computer memory systems.
Circuits and Systems.
Memory Structures.

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