Analysis and design of resilient VLSI circuits : mitigating soft errors and process variations /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Garg, Rajesh
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2010.
Edición:1 edición
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Garg, Rajesh 
245 1 0 |a Analysis and design of resilient VLSI circuits :  |b mitigating soft errors and process variations /  |c creador Rajesh Garg. 
250 |a 1 edición 
260 |a Nueva York, Estados Unidos :  |b Springer,  |c 2010. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b diagramas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos SPRINGER 
504 |a Referencias 
590 |a ELEC 
590 |a COMP 
590 |a INGE 
650 1 7 |a Circuitos electrónicos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Radiación  |x Efectos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Algoritmos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos  |x Diseño  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Automatización del diseño  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Modelado  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
903 |a Martha E  |b 2024/05/14