Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design /

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design /

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Singhee, Amith. (Editor ), Rutenbar, Rob A. (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: New York, NY : Springer US : Imprint: Springer, 2010.
Edición:1st ed. 2010.
Colección:Integrated Circuits and Systems,
Materias:
Electronic circuits.
Electronics.
Microelectronics.
Circuits and Systems.
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
Descripción
Descripción Física:X, 246 p. : online resource.
ISBN:9781441966063

Ejemplares similares