Helium Ion Microscopy : Principles and Applications /
Autor principal: | |
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Autor Corporativo: | |
Formato: | eBook |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2013.
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Edición: | 1st ed. 2013. |
Colección: | SpringerBriefs in Materials,
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Materias: |
Descripción Física: | VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color. : online resource. |
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ISBN: | 9781461486602 |