Helium Ion Microscopy : Principles and Applications /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Joy, David C. (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2013.
Edición:1st ed. 2013.
Colección:SpringerBriefs in Materials,
Materias:

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