Quantitative data processing in scanning probe microscopy : spm applications for nanometrology /

Quantitative data processing in scanning probe microscopy : spm applications for nanometrology /

Bibliographic Details
Main Author: Klapetek, Petr
Format: Book
Language:English
Published: Estados Unidos : William Andrew Publishing, 2013.
Subjects:
Nanotecnología
Electrones
Circuitos de retroalimentación
Almacenamiento de datos
Procesamiento de datos
Procesamiento y evaluación de datos
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