Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras : dependencia espectral del índice de refracción complejo /
Main Author: | Amador-Jara, Alvaro |
---|---|
Format: | Thesis Book |
Language: | Spanish |
Published: |
[San José], Costa Rica :
A. A. Amador J.,
2004.
|
Edition: | 1 edición |
Subjects: |
Similar Items
-
Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras : dependencia espectral del índice de refracción complejo /
by: Amador Jara, Alvaro Antonio, et al.
Published: (2004) -
Temperatura y tiempo de reconocimiento para peliculas delgadas de aluminio /
by: Chaverri, Diego, et al.
Published: (1987) -
Estudio del tamaño de grano como función de la concentración de aleaciones para el sistema Pb-In en películas delgadas /
by: Arellano Ubilluz, Pablo, et al.
Published: (1990) -
PVD for microelectronics : sputter deposition applied to semiconductor manufacturing /
by: Powell, Ronald A., et al.
Published: (1999) -
Characterization of epitarial semiconductor films /
by: Kressel, Henry
Published: (1976)