Failure modes and mechanisms in electronic packages /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Viswanadham, Puligandla (Autor, Autor/a), Singh, Patrap (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Chapman & Hall, c1998.
Materias:
INDUSTRIAS ELECTRONICAS
CONTROL DE CALIDAD
ELECTRONICA
SEMICONDUCTORES
ENCAPSULADO ELECTRONICO

Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica

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Número de Clasificación: 621.381.046
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