Wire bonding in microelectronics : materials, processes, reliability, and yield /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Harman, George G. (Autor, Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : McGraw-Hill, c1997.
Edición:2. edition
Colección:Electronic Packaging and Interconnection Series / Charles M. Harper, series advisor
Materias:
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100 1 |a Harman, George G.  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Wire bonding in microelectronics :  |b materials, processes, reliability, and yield /  |c George G. Harman 
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260 |a New York :  |b McGraw-Hill,  |c c1997. 
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490 0 |a Electronic Packaging and Interconnection Series / Charles M. Harper, series advisor 
650 |a MICROELECTRONICA 
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650 |a SEMICONDUCTORES 
900 |a 2009 
912 |a 23-OCT-2009 - GARRIDO CORDERO, IRINA 
917 |a 21-SEP-2009 - BUSTAMANTE MORA, CYNTHIA 
949 |a IG -EMQ 
916 |a Centro Catalográfico