An introduction to time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science /
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
San Rafael, California :
Morgan & Claypool Publishers,
c2015.
|
| Colección: | IOP Concise Physics
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Descripción Física: | 1 recurso en línea (1 volumen en varias paginaciones) : ilustraciones (algunas a color), gráficos (algunos a color), archivos de texto, PDF. |
|---|---|
| ISBN: | 9781681740249 9781681740881 |
| Acceso: | Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional |