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| LEADER |
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| 020 |
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|a 9781681740249
|q (PDF)
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| 020 |
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|a 9781681740881
|q (Ebook)
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| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
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| 082 |
0 |
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|a 543.65
|2 23
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| 100 |
1 |
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|a Fearn, Sarah
|e Autor/a
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| 245 |
1 |
0 |
|a An introduction to time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science /
|c Sarah Fearn.
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| 260 |
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|
|a San Rafael, California :
|b Morgan & Claypool Publishers,
|c c2015.
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| 300 |
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|a 1 recurso en línea (1 volumen en varias paginaciones) :
|b ilustraciones (algunas a color), gráficos (algunos a color), archivos de texto, PDF.
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| 490 |
0 |
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|a IOP Concise Physics
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| 506 |
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|a Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional
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| 650 |
0 |
7 |
|a ESPECTROMETRIA DE MASAS
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| 650 |
0 |
7 |
|a CIENCIA DE LOS MATERIALES
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| 650 |
0 |
7 |
|a CIENCIAS FISICAS
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| 856 |
4 |
1 |
|u https://iopscience.proxyucr.elogim.com/book/978-1-6817-4088-1
|y Ver documento en línea
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| 900 |
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|a 2021-O
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| 916 |
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|a Centro Catalográfico
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| 949 |
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|a MEG -SVZ
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