An introduction to time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science /

An introduction to time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fearn, Sarah (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: San Rafael, California : Morgan & Claypool Publishers, c2015.
Colección:IOP Concise Physics
Materias:
ESPECTROMETRIA DE MASAS
CIENCIA DE LOS MATERIALES
CIENCIAS FISICAS
Acceso en línea:Ver documento en línea

Ejemplares similares

Ejemplares similares