An introduction to time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
San Rafael, California :
Morgan & Claypool Publishers,
c2015.
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| Colección: | IOP Concise Physics
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
Internet
Ver documento en líneaSistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
543.65 |
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| Copia | Disponible |