Analysis and design of resilient VLSI circuits : mitigating soft errors and process variations /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Garg, Rajesh
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2010.
Edición:1 edición
Materias:

Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica

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