Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bushnell, Michael L.
Otros Autores: Agrawal, Vishwani D. (creador)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú : Kluwer Academic Publishers, 2000.
Edición:1 edición
Materias:
Circuitos integrados > Pruebas
Circuitos integrados digitales > Pruebas
Circuitos de señal mixta > Pruebas
Dispositivos de almacenamiento > Pruebas
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