Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /

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Bibliographic Details
Main Author: Bushnell, Michael L.
Other Authors: Agrawal, Vishwani D. (creador)
Format: Book
Language:English
Published: Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú : Kluwer Academic Publishers, 2000.
Edition:1 edición
Subjects:
Circuitos integrados > Pruebas
Circuitos integrados digitales > Pruebas
Circuitos de señal mixta > Pruebas
Dispositivos de almacenamiento > Pruebas
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