Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bushnell, Michael L.
Otros Autores: Agrawal, Vishwani D. (creador)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú : Kluwer Academic Publishers, 2000.
Edición:1 edición
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Bushnell, Michael L. 
245 1 0 |a Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /  |c creadores Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. 
250 |a 1 edición 
260 |a Nueva York ;  |a Boston ;  |a Países Bajos ;  |a Londres ;  |a Moscú :  |b Kluwer Academic Publishers,  |c 2000. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos EBSCO/GOBI-YBP 
504 |a Bibliografía 
590 |a ELEC 
590 |a FISI 
590 |a COMP 
590 |a TECN 
590 |a INGE 
650 1 7 |a Circuitos integrados  |x Pruebas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos integrados digitales  |x Pruebas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos de señal mixta  |x Pruebas  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Dispositivos de almacenamiento  |x Pruebas  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
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902 |a Elieth  |b 2023/02/16