Analog IC reliability in nanometer CMOS /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Maricau, Elie
Otros Autores: Gielen, Georges (creador)
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2013.
Edición:1 edición
Materias:
Circuitos electrónicos
Circuitos analógicos
Circuitos > Diseño
Nanotecnología
Transistores
Circuitos integarados CMOS
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