Analog IC reliability in nanometer CMOS /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Maricau, Elie
Otros Autores: Gielen, Georges (creador)
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2013.
Edición:1 edición
Materias:
LEADER 01259nam a2200361 i 4500
001 000278541
005 20240514085209.0
007 cr nn 008mamaa
008 130109s2013 xxudo fs 000 0 eng d
020 |a 9781461461630  |q (e-book) 
040 |a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica 
100 1 |a Maricau, Elie 
245 1 0 |a Analog IC reliability in nanometer CMOS /  |c creadores Elie Maricau, Georges Gielen. 
250 |a 1 edición 
260 |a Nueva York, Estados Unidos :  |b Springer,  |c 2013. 
300 |a 1 recurso en línea :  |b diagramas, fotografías, gráficas. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a computadora  |b c  |2 rdamedio 
338 |a recurso en línea  |b cr  |2 rdaportador 
500 |a Base de Datos SPRINGER 
504 |a Referencias 
590 |a ELEC 
590 |a INGE 
590 |a FISI 
650 1 7 |a Circuitos electrónicos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos analógicos  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos  |x Diseño  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Nanotecnología  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Transistores  |2 Tesauro SIBITEC 
650 1 7 |a Circuitos integarados CMOS  |2 Tesauro SIBITEC 
655 4 |a Libros electrónicos 
700 1 |a Gielen, Georges,  |e creador 
903 |a Martha E  |b 2024/05/14