Analog IC reliability in nanometer CMOS /

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Analog IC reliability in nanometer CMOS /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Maricau, Elie
Otros Autores:	Gielen, Georges (creador)
Formato:	eBook
Lenguaje:	English
Publicado:	Nueva York, Estados Unidos : Springer, 2013.
Edición:	1 edición
Materias:	Circuitos electrónicos Circuitos analógicos Circuitos > Diseño Nanotecnología Transistores Circuitos integarados CMOS Libros electrónicos

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