Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico
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| Other Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Spanish |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.revistas.una.ac.cr/index.php/uniciencia/article/view/11103/14003 |
| Item Description: | Contiene resumen en inglés y portugués |
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